Опишите детали
Мы производим термические оксидные кремниевые подложки диаметром от 2 до 8 дюймов, используя как CZ, так и FZ основы, чтобы удовлетворить различные требования приложений. Толщина оксида варьируется от тонких оксидов для затворов в несколько десятков нанометров до толстых полевых оксидов толщиной более 2 микрометров, все с точным контролем по спецификациям заказчика в узких пределах допуска. Мы предлагаем как сухое, так и влажное окисление: сухое окисление дает более плотные оксидные пленки с высокой диэлектрической прочностью, идеально подходящие для диэлектрика затвора, тогда как влажное окисление обеспечивает более высокую скорость роста для толстых оксидных слоев. Термически выращенный слой SiO2 обеспечивает отличные электрические изоляционные свойства, превосходную пассивацию поверхности и эффективную маскирующую способность для процессов ионной имплантации и диффузии, что делает термический оксидный кремниевый подложку незаменимым для многих этапов производства полупроводников.
| Категория параметров | Технические характеристики |
|---|---|
| Диаметр подложки | 2 дюйма до 8 дюймов |
| Основная подложка | Отполированная кремниевая подложка CZ или FZ |
| Толщина оксидного слоя | 10 нм (тонкий оксид для затвора) до 2 мкм (толстый полевой оксид); доступна индивидуальная толщина |
| Однородность толщины | ≤ ±3% |
| Процесс окисления | Сухое термическое окисление, влажное термическое окисление |
| Особенности процесса |
Сухое окисление: плотная структура пленки, высокое напряжение пробоя — идеально для оксида затвора
|
| Напряженность электрического поля пробоя | ≥ 8 МВ/см |
| Диэлектрическая проницаемость | Стабильная и постоянная |
| Плотность сквозных дефектов | Чрезвычайно низкая |
| Легирование подложки | Тип N или тип P (по желанию) |
| Кристаллическая ориентация | <100> или <111> |
| Диапазон удельного сопротивления | Широкий диапазон (настраиваемый) |
| Обработка задней стороны | Сохранение оксида; удаление оксида шлифовкой/полировкой; золочение задней стороны |
| Документация по качеству | Отчет по многоточечному измерению толщины оксида для каждой партии, данные по однородности, результаты испытаний электрических характеристик |
| Применение | Диэлектрические слои ИС, пассивация силовых приборов, структурные слои MEMS, НИОКР в полупроводниковых процессах, лабораторное обучение |
Часто задаваемые вопросы
Да.
Да, мы можем маркировать продукты в соответствии с вашими требованиями. Допускаются как внутренние, так и внешние этикетки.
Да, у нас есть фабрика в Цзянсу. Добро пожаловать посетить нашу компанию и фабрику.
Наш основной акцент сделан на процессе производства и производственном цикле.
Исходя из ваших потребностей, мы организуем отправку в тот же день для товаров, имеющихся на складе, а для товаров, отсутствующих на складе, мы уточним дату доставки. Доставка будет осуществлена в течение установленного срока.